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2018年12月26日

2109号-「観察のための電子顕微鏡の基礎 ~SEMの原理と測定の概要~」のご案内

平成30年度 第5回分析技術セミナー


「観察のための電子顕微鏡の基礎 ~SEMの原理と測定の概要~」のご案内

 宮城県産業技術総合センターで導入しました株式会社日立ハイテクノロジーズ製走査型電子
顕微鏡SU5000は取扱が容易で、分析感度も高いため、初めてSEMに触れる方を含め、いろいろな
分野の多くのお客さまにご利用、問い合わせを頂いております。
 そのためご利用される方々から、電子顕微鏡の原理や利用方法等についての基礎的な講義を
希望する声が多く聞かれました。
 そこで、今回は株式会社日立ハイテクノロジーズ様の協力を得て、基礎講座と見学会を実施
いたしますので、是非ご参加ください。
 今回のセミナーは、次の方にお勧めです。分析技術向上に御活用ください。
   1. 走査型電子顕微鏡の原理を学びたい。
   2. 走査型電子顕微鏡の使用方法を一通り学びたい。
   3. センターの走査型電子顕微鏡を一度見てみたい。

 

 ■日 時:平成31年1月18日(金)
       講義 13:00~16:00 ※講義のみ受講可
       見学 16:00~16:30

 

 ■会 場:宮城県産業技術総合センター 大研修室及び表面分析室
       仙台市泉区明通2-2

 

 ■対象者:研究・開発、不具合解析等を行う企業の担当者

 

 ■定 員:講義:40名(見学は20名)

 

 ■受講料:無料

 

 ■内容(講義、見学)
   (1) 走査型電子顕微鏡の原理と観察テクニック
   (2) 走査型電子顕微鏡試料前処理の基礎
   (3) EDXの原理と分析の基礎
   (4) 走査型電子顕微鏡の見学

 

 ■詳細、申込方法
  内容、申込方法等の詳細につきましては、以下のページをご覧ください。
   http://www.mit.pref.miyagi.jp/kenshu/18/index.html#tech_seminar
  申込締切:平成31年1月16日(水) ※応募者多数の場合先着順となります。

 

 ■お問い合わせ
  宮城県産業技術総合センター
   仙台市泉区明通2-2
    TEL:022-377-8700  FAX:022-377-8712
    E-mail:seminar@mit.pref.miyagi.jp

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