機関誌・MIAニュース

2016年5月16日

1565号-平成28年度 第1回表面観察・分析技術セミナー

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 平成28年度 第1回表面観察・分析技術セミナー

 

 プロに学ぶ-基礎からのX線回折-

 

                       ▼締め切り 平成28年度7月6日(水)

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 この度X線回折装置(XRD)の導入にあたり,世界屈指の分析機器メ

ーカーの株式会社リガク様より講師を迎え,X線回折の基礎と最新の分析

機器について学べるセミナーを企画しました。 XRDは物質が結晶性で

あるという制約条件があるものの,大気中で元素情報だけでなく結晶状態

が分かるという特徴が有り,粉末,バルク試料,ウェハー,薄膜等の分析

が可能です。是非御参加ください。

  •  X線回折の基礎について学んだことがない。
  •  X線回折でどんな分析ができるのだろうか?
  •  今までEDS,XRFで分析できない試料があった。他に分析方法は

  ないだろうか?

 

 

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・日程 平成28年7月8日(金)

・時間 午後1:30 ~ 午後4:50

・会場 宮城県産業技術総合センター 大会議室

・講師 株式会社リガク 紺谷 貴之氏,白又 勇士氏

・定員 40人

・受講料  無料

 

▼案内パンフレットはこちらから

  http://www.mit.pref.miyagi.jp/kenshu/15/index.html#tech_seminar

 

  目的 X線回折による分析のための基礎の習得

  内容

  1)X線回折の原理

 2)定性分析や測定条件

 3)光学系について

 4)X線回折装置の見学

 

  先着順となりますので,ご了承ください。

 

▼終了後個別のご相談を承ります。是非ご利用ください。

 

▼申し込み方法

  上記URLより案内パンフレットをダウンロードし,申込書に必要事項記

  入の上FAXまたは郵送にてお申し込みください。

  以下に必要事項を記入しE-mailでもお申し込み可能です。

 

  定員に達した場合には締め切らせていただく場合がございます。あらか

  じめ,ご了承ください。

 

▼問い合わせ先

 宮城県産業技術総合センター 材料開発・分析技術部 

 機能材料開発班 氏家

 TEL022-377-8700/E-mail seminar@mit.pref.miyagi.jp

  URL http://www.mit.pref.miyagi.jp/

 

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seminar@mit.pref.miyagi.jp宛にお送りください。

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