機関誌・MIAニュース
2018年12月26日
2109号-「観察のための電子顕微鏡の基礎 ~SEMの原理と測定の概要~」のご案内
平成30年度 第5回分析技術セミナー
「観察のための電子顕微鏡の基礎 ~SEMの原理と測定の概要~」のご案内
宮城県産業技術総合センターで導入しました株式会社日立ハイテクノロジーズ製走査型電子
顕微鏡SU5000は取扱が容易で、分析感度も高いため、初めてSEMに触れる方を含め、いろいろな
分野の多くのお客さまにご利用、問い合わせを頂いております。
そのためご利用される方々から、電子顕微鏡の原理や利用方法等についての基礎的な講義を
希望する声が多く聞かれました。
そこで、今回は株式会社日立ハイテクノロジーズ様の協力を得て、基礎講座と見学会を実施
いたしますので、是非ご参加ください。
今回のセミナーは、次の方にお勧めです。分析技術向上に御活用ください。
1. 走査型電子顕微鏡の原理を学びたい。
2. 走査型電子顕微鏡の使用方法を一通り学びたい。
3. センターの走査型電子顕微鏡を一度見てみたい。
■日 時:平成31年1月18日(金)
講義 13:00~16:00 ※講義のみ受講可
見学 16:00~16:30
■会 場:宮城県産業技術総合センター 大研修室及び表面分析室
仙台市泉区明通2-2
■対象者:研究・開発、不具合解析等を行う企業の担当者
■定 員:講義:40名(見学は20名)
■受講料:無料
■内容(講義、見学)
(1) 走査型電子顕微鏡の原理と観察テクニック
(2) 走査型電子顕微鏡試料前処理の基礎
(3) EDXの原理と分析の基礎
(4) 走査型電子顕微鏡の見学
■詳細、申込方法
内容、申込方法等の詳細につきましては、以下のページをご覧ください。
http://www.mit.pref.miyagi.jp/kenshu/18/index.html#tech_seminar
申込締切:平成31年1月16日(水) ※応募者多数の場合先着順となります。
■お問い合わせ
宮城県産業技術総合センター
仙台市泉区明通2-2
TEL:022-377-8700 FAX:022-377-8712
E-mail:seminar@mit.pref.miyagi.jp