機関誌・MIAニュース
2016年5月16日
1565号-平成28年度 第1回表面観察・分析技術セミナー
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平成28年度 第1回表面観察・分析技術セミナー
プロに学ぶ-基礎からのX線回折-
▼締め切り 平成28年度7月6日(水)
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この度X線回折装置(XRD)の導入にあたり,世界屈指の分析機器メ
ーカーの株式会社リガク様より講師を迎え,X線回折の基礎と最新の分析
機器について学べるセミナーを企画しました。 XRDは物質が結晶性で
あるという制約条件があるものの,大気中で元素情報だけでなく結晶状態
が分かるという特徴が有り,粉末,バルク試料,ウェハー,薄膜等の分析
が可能です。是非御参加ください。
- X線回折の基礎について学んだことがない。
- X線回折でどんな分析ができるのだろうか?
- 今までEDS,XRFで分析できない試料があった。他に分析方法は
ないだろうか?
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・日程 平成28年7月8日(金)
・時間 午後1:30 ~ 午後4:50
・会場 宮城県産業技術総合センター 大会議室
・講師 株式会社リガク 紺谷 貴之氏,白又 勇士氏
・定員 40人
・受講料 無料
▼案内パンフレットはこちらから
http://www.mit.pref.miyagi.jp/kenshu/15/index.html#tech_seminar
目的 X線回折による分析のための基礎の習得
内容
1)X線回折の原理
2)定性分析や測定条件
3)光学系について
4)X線回折装置の見学
先着順となりますので,ご了承ください。
▼終了後個別のご相談を承ります。是非ご利用ください。
▼申し込み方法
上記URLより案内パンフレットをダウンロードし,申込書に必要事項記
入の上FAXまたは郵送にてお申し込みください。
以下に必要事項を記入しE-mailでもお申し込み可能です。
定員に達した場合には締め切らせていただく場合がございます。あらか
じめ,ご了承ください。
▼問い合わせ先
宮城県産業技術総合センター 材料開発・分析技術部
機能材料開発班 氏家
TEL022-377-8700/E-mail seminar@mit.pref.miyagi.jp
URL http://www.mit.pref.miyagi.jp/
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